1 JTAG

1.1 JTAG Pin

1.2 스캔 체인

1.3 TAP

1.3.1 레지스터

ARM은 크게 네 개의 스캔 체인(scan chain)을 갖는다.

• 스캔 체인0 - ?ARM7TDMI 코아
• 스캔 체인1 - 스캔 체인0의 서브 셋 (디버그 모드)
• 스캔 체인2 - ICE
• 스캔 체인3 - External
• 스캔 체인6 - ?
• 스캔 체인15 - 코프로세서
  
  

스캔 체인0은 ARM 코아 전체를 커버한다. 데비터 및 어드레스 버스[31:0], 코아 제어 신호, ICE 제어 신호를 모두 커버한다.

스캔 체인1은 스캔 체인 0의 서브 셋으로 데이터 버스[31:0]과 BREAKPT 신호를 커버한다.

스캔 체인2은 ICE 관련 신호들을 커버한다.

스캔 체인15은 코프로세서 관련 신호들을 커버한다.

TAP은 Test Access Port의 약자이다. 시리얼 테스트 및 디버그를 위해서는 JTAG 상태 머신을 통해 제어가 필요하다. 이러한 것을 처리하는 것이 TAP 컨트롤러이다.

<< TAP 컨트롤러 상태 변이>>

• DR (Data 레지스터)
• IR (Instruction 레지스터)
  
  

TAP에서 사용하는 명령은 다음과 같다:

명령	이진코드	16진코드
EXTEST	b0000	0x0
SCAN_N	b0010	0x2
SAMPLE/PRELOAD	b0011	0x3
RESTART	b0100	0x4
CLAMP	b0101	0x5
HIGHZ	b0111|0x7
CLAMPZ	b1001|0x9
INTEST	b1100	0xC
IDCODE	b1110	0xE
BYPASS	b1111	0xF